相关光和电子显微镜（CLEM）是荧光显微镜和高分辨率的组合扫描电子显微镜（SEM）。荧光光学显微镜（LM）用于监测样品中的动态事件，但缺乏分辨率和上下文来产生超微结构水平的细节。SEM提供了细胞器和突触的高分辨率图像，但无法提供特定时间或动态信息。荧光成像的标记功率与电子显微镜的高分辨率结构信息的组合使相关显微镜成为研究生物学形式与功能之间复杂关系的理想工具。使用唯一的相关方法，将这两种方式快速准确地组合在一起。在几秒钟内，来自LM和SEM的数据集被覆盖至高精度。

与SEM系统简化了工作流程，并在微观技术之间提供无缝切换。SECOM系统提供了完全自动化的覆盖层，其精度高于50 nm。