原子力显微镜的电模式

电力显微镜

EFM使导电AFM尖端振荡以感测电力梯度。通常，这一过程分两次完成——一次以标准动态模式测量地形，第二次“提升”记录剖面上方的设定量以测量电场强度。利用相位信号，创建电场梯度图。

开尔文探针力显微镜

与EFM一样，KFM也是一种需要导电探针的振荡技术。开尔文探针力显微镜（KFM）模式测量表面的功函数。它也被称为表面电位显微镜。

该模式可作为提升技术（双通道）或单通道方法完成。单通法被称为高清KFM（HD KFM），为测量表面电位提供了更高的灵敏度和更高的空间分辨率。HD KFM需要第二个锁定放大器，如下所示。因为单程不需要尖端“提升”到表面以上，所以电信号的分辨率更高，并提供额外的分辨率。

导电原子力显微镜

导电AFM或扫描扩散电阻（SSR）用于通过导电AFM尖端对接触模式下的材料成像。通过对针尖（或样品）施加偏压，测量从一个针尖到另一个针尖的电流，并获得电导率（或电阻率）图。